高对比度分辨力测试卡
高对比度分辨力测试卡,用于X射线机等X成像设备的分辨率测试。尺寸:13*28*2mm 线对:40LP/cm 到 80LP/cm 组数:4
- 01
更新日期
2025-02-25 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
浏览量
441

产品分类
更新日期
2025-02-25厂商性质
生产厂家浏览量
441
更新日期
2025-02-24厂商性质
生产厂家浏览量
381
更新日期
2025-02-22厂商性质
生产厂家浏览量
310
更新日期
2025-02-22厂商性质
生产厂家浏览量
338
更新日期
2025-02-22厂商性质
生产厂家浏览量
406
更新日期
2025-02-20厂商性质
生产厂家浏览量
422关于我们
公司简介荣誉资质资料下载产品展示
CDR综合测试模体支架 3D脑模体 十字放射铅尺(一体) 数字减影透视模体-TO Q3 数字减影透视模体-TO J 3服务与支持
技术文章新闻中心联系我们
联系方式在线留言版权所有 © 2026 广东粤森雅仪器科技有限公司 备案号:
技术支持:化工仪器网 管理登陆 sitemap.xml